摘要
分析了高速数据采集系统对采样时钟抖动的要求,给出了时钟相位噪声和时钟抖动的转换关系;采用HITTITE的HMC1035LP6GE频率综合芯片作为主芯片,设计了时钟生成电路,2 500 MHz输出时钟抖动测量值90 fs(整数工作模式,输入频率100 MHz,鉴相频率100 MHz,环路滤波带宽127 kHz,积分区间[10 kHz,10 MHz])。对比时钟生成电路在各种工作模式下的性能,给出了对应的设计指南。
近些年来,国内对高速数据采集系统的研究如火如荼,取得很多的成果。在高速数据采集系统中,有几个性能经常被比较提出,包括:模拟输入带宽、采样率、分辨率、有效位和存储深度等,前4个指标主要由数据采集系统前端来决定(数字增强型的输入带宽、数字增强型的分辨率和数字增强型的有效位不在讨论之列)。数据采集系统的前端主要包括了前端模拟信号调理电路、模拟数字转换器(Analog to digital converter, ADC)、超低抖动时钟产生电路等。
目前,很多应用场合都使用具有高采集率、高分辨率的ADC,为充分利用ADC的带宽、采样率、分辨率和有效位等性能,必须为ADC选择极低噪声的模拟信号调理电路、超低抖动的时钟产生电路和超低纹波电源产生电路等。以下将重点讨论ADC的有效位指标,影响ADC的有效位(Effective number of bits,ENOB)的因素很多,包括ADC自身因素(ADC的孔径抖动(Aperture jitter)、ADC的量化噪声(Quantization noise)、ADC的非线性等、模拟输入信号噪声、采样时钟抖动、电源纹波噪声等,信噪比(Signal to noise ration, SNR)具体可参考
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式中:fin为满量程(ADC输入量程)模拟输入的标准正弦波频率;tjrms为ADC的孔径抖动和采样时钟抖动的均方根值;ε为ADC的非线性,包含了积分非线性和微分非线性;N为ADC量化位数;VNOISErms为模拟输入噪声。在模拟输入满量程(不考虑幅度修正问题)且tjrms=0、ε=0、VNOISErms=0的情况下,仅考虑ADC量化噪声贡献,得到ADC的理想信噪比为
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式中信纳比(Signal to noise and distortion ratio, SINAD)为信号功率与噪声、谐波功率之比;ENOB为ADC的实际有效位数。
在模拟输入满量程且ε=0、VNOISErms=0的情况下,将量化噪声等效到tjrms中,得到仅由抖动贡献的SINAD(如
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在模拟输入满量程且tjrms=0、VNOISErms=0的情况下,将量化噪声等效到ε中,得到仅由非线性动贡献的SINAD(如
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可以看到, fin、tjrms、ε、VNOISErms与外部输入相关,可以通过降低采样时钟抖动、降低电源噪声和提高模拟输入信号品质等途径,提高ADC的有效位数ENO
数据采集系统中经常提到的时钟相位噪声和时钟抖动指标,两者是同一项时钟性能在频域和时域的不同表现形式,本质是衡量时钟短期稳定性的指标。时钟的长期稳定性使用频率漂移(Frequency drift)来描述,其短期稳定性使用时钟抖动(Clock jitter)或者时钟相位噪声( Clock phase noise)来描
时钟抖动(Clock jitter)。表示时钟抖动的方法有多
相位噪声。L(f)定义为在1 Hz的带宽划分下,频率fm处的功率与时钟中心频率f0(亦称载波频率fc)的功率之比,如
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以下讨论的时钟抖动指的是时钟周期抖动,将时钟周期抖动和相位噪声关联起来并进行相互转换,需要借助于相位抖动(Phase jitter)。相位抖动定义为相位噪声功率谱密度上一定频带内的相位噪声能量总和,如
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关于相位抖动的频率积分区间[f1,f2],理论上讲,积分区间下限f1应该尽量低,f1为1 Hz、10 Hz等,带宽上限应尽量高, f2为2 f0、。实际使用时,需要根据应用场合调整频率积分区间
根据以上理论分析,为了使ADC芯片可以实现最佳性能,需要为其提供超低抖动的时钟信号。选用了HITTITE公司(已被ADI收购)的HMC1035LP6G

图 1 时钟产生电路原理图
Fig. 1 Block diagram of clock generation circuit
PCB设计采用了4层板结构:L1(TOP,Signal)→L2(GND)→L3(Power)→L4(Bottom,Signal),FR⁃4板材,1.6 mm标准厚度。设计时,TOP层、Bottom层走线阻抗控制,单线特征阻抗50 Ω,差分线特征阻抗100 Ω,Top、Bottom层表面铺铜接地。电源设计采用外部电源供电,分析了2种供电方式对HMC1035输出频率的影响。关于高速电路的电源去耦的设计,有很多专门的文章进行论
HMC1035窄带环路滤波的设计关系到PLL的频率锁定和时钟噪声滤
需要特别指出的是,在工作时,高速芯片引脚的连接,除了给定的NC引脚可以悬空之外,在芯片工作时需要使用的引脚,不推荐悬空,引脚一旦悬空,容易导致引脚状态未知,影响系统的稳定。设计的时钟产生电路实物图如

图 2 时钟产生电路实物
Fig. 2 Clock generating circuit photo
时钟抖动测试仪器采用ROHDE&SCHWARZ公司的FSW13频谱与信号分析仪,采用标准配件,在进行频谱分析时,积分区间[10 kHz,10 MHz]。
采用直流电压源供电,直流电压源型号Agilent E3631A,通过SPI配置HMC1035芯片,测量HMC1035在整数模式和小数模式输出时钟的抖动,其它工作条件都相同,得到
整数模式下锁相环(Phase lock loop, PLL)的输出分频率受限于PD的频率步进。小数模式的优点在于可以提高PLL的输出分辨率,显著改善锁定时间,但是小数模式下工作的PLL的输出杂散水平较高,影响时钟抖动指标。可以看到:小数模式下的输出时钟抖动明显高于整数模式下的输出时钟抖
采用直流电压源供电,HMC1035工作在整数模式下,PD工作频率为100,50,10,1 MHz,测量输出时钟抖动性能,结果如
PD有2个输入端,一端接参考输入频率fxtal的R分频,一端接VCO工作频率fVCO的N分频。PD稳定工作在整数模式时,PD无偏置,电流为0,此时,只需要考虑PD工作频率fPD对输出时钟抖动的贡献,fPD表示为
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PD将fVCO的N分频的反馈频率与输入参考频率的某一分频形式进行鉴相,输出一个电流,经过积分和外部环路滤波,产生一个电压,这个电压驱动VCO提高或者降低频率,使PD的输出电流的等效电压接近0,达到平衡。提高fPD,可以降低输出时钟相位噪声,相位噪声是在PD的最高工作频率上加20 logR,因此R越大,PD工作频率越低,相位噪声越差,R增大一倍,相位噪声降低3 dB,应该使用可行的PD最高工作频率,但实际往往需要均
HMC1035芯片在正常工作时,其功耗比较高,为保证PLL的输出性能,需要选择好供电方式,并做好电源的去耦和PCB散热等工作。在保证电源去耦的前提下,分析了直流电压源(Agilent E3631A)供电和DC/DC开关电源(PTH08T240W)供电对PLL芯片输出性能的影响,如

图 3 HMC1035的典型相位噪声示意图
Fig. 3 Typical phase noise of HMC1035
可以看出,开关电源供电对整个系统的性能影响很大,不仅增加了HMC1035的输出时钟抖动,而且增加了信号路径上的所有时钟抖动。开关电源供电对HMC1035的输出时钟抖动贡献较大,预估约为90 fs(2 500 MHz输出频率,单次,未考虑统计涨落),其贡献主要来源于开关频率及其高次谐波的影响。采用外部直流电压源供电后,HMC1035的输出频谱上,在300 kHz的开关频率附近依然有毛刺,如
受限于测量仪器的指标限制,本次实验给出的时钟抖动的积分区间为[10 kHz,10 MHz],器件手册给出的时钟抖动指标的积分区间为[12 kHz,20 MHz],根据测量得到的噪声功率谱密度图,可以从理论上推出积分区间[12 kHz,20 MHz]的时钟抖
根据
以ADS5400为例说明超低抖动时钟在高速数据采集系统中的应用,ADS5400孔径抖动aperture jitter为125 fsrms。当fin=125 MHz,ENOB=10 bits时,根据式(
可以看到,针对低频输入信号、对有效位要求不高等情况时,采样时钟抖动对ADC有效位的影响较小,甚至可以忽略,这时需要注意低噪声的模拟信号调理电路设计和电源完整性设计等。针对高频输入信号、对有效位要求高等情况时,采样时钟抖动对ADC有效位的影响很大,需要精心设计采样时钟等以充分提高数据采集系统的模拟输入带宽和有效位。
本文分析了影响高速数据采集系统有效位和带宽的因素,推导给出时钟抖动对有效位的影响。并且研究时钟相位噪声和时钟抖动之间的转换关系,给出了理论依据和转换过程。
高速数据采集系统是一个系统工程,需要设计极低噪声的模拟信号调理电路、超低抖动的时钟产生电路、超低纹波电源产生电路等。针对高频输入信号进行数据采集、对有效位要求高等情况,选择合适的时钟产生方式、获取超低抖动采样时钟尤其重要。
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